1. После предварительного сканирования поверхности в резонансной полуконтактной моде (РПМ) в центральной части выбранного таким образом участка поверхности было произведено сканирование в контактной моде с силой порядка 10^-7Н, что привело к деструкции покрытия в месте сканирования.
2. Дальнейшие последовательные сканирования в РПМ с возрастающим шагом визуализируют "разрушения" в месте контактного сканирования. При первом сканировании кроме разрушенного участка на скане начинают проявляться полосы в направлении сканирования, которые не проявляются при повторном сканировании того же участка поверхности за исключением "точек" на периферии скана. При следующим сканировании по большей площади картина повторяется.
3. Наблюдаемые полосы поэтому нельзя связывать с реальным рельефом поверхности - это артифакт.
4. Проявление данного артифакта, названного нами "крикет", обусловлено результатом взаимодействия слабо связанных с поверхностью пылинок, появившихся при разрушении поверхности, с иглой кантилевера. Кантилевер гонит перед собой пылинку и это взаимодействие визуализуется в виде полос.

Условия измерения
Дата	27-Фев-1997
Прибор	P4-SPM-MDT (18 разрядный ЦАП, сканер 14мкм x 14мкм)
Мода	ССМ резонансная мода (f=365.9 кГц)
Зонд	UltraSharp Проводящие Кремниевые Кантилеверы

Измерено А.Беляевым, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем & НТ-МДТ, Москва, Россия.

Не опубликовано.