NT-MDT

Эффект Глича, который проявил себя в моде боковой силы на сверхрешетке. Направление сканирования по оси X. Размер скана 1.5x1.4 мкм.

Условия измерения

Дата 22-Мар-1996

Прибор P4-SPM-MDT (16 разрядный ЦАП, сканер 14мкм x 14мкм)

Мода ССМ боковых сил

Зонд Кантилевер Si₃N₄ с радиусом кривизны 20нм

Измерено М.Еремтченко, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем и НТ-МДТ, Москва, Россия.

V.A.Fedirko, V.A.Bykov, M.D.Eremtchenko, V.I.Shashkin and V.M.Daniltzev. Characterization of GaAs/GaAlAs MOCVD Superlatice by STM/AFM Technique. Russian Academy of Siences. Abstracts of Invited Lectures and Contributed Papers, St Petersburg, Russia, 24-28 June 1996, pp.. 381-384.