[SOLVER Сканирующий Зондовый Микроскоп]

[Image] ССМ изображение квантовых точек InAs на (001) поверхности GaAs. На изображении видны и атомные ступени GaAs. Скан размером 439x357 нм.

Условия измерения
Дата18-Сен-1996
ПриборP4-SPM-MDT (16 разрядный ЦАП, сканер 7мкм x 7мкм)
МодаССМ контактная мода
ЗондКантилевер Si3N4 с радиусом кривизны 50нм

Измерено В.Жижимонтовым, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем & НТ-МДТ, Москва, Россия.
Образец предоставлен А.Титков, Физико-Технический Институт им. А.Ф.Иоффе, РАН, Санкт-Петербург, Россия.

Не опубликовано.


Copyright © 1997, НТ-МДТ
Обратная связь bykovav@ntmdt.zgrad.ru