[SOLVER Сканирующий Зондовый Микроскоп]

[Image] ССМ изображение дифракционной решетки, сформированной на кремниевой подложке. Скан размером 3.5x3.5 мкм.

Условия измерения
Дата21-Дек-1996
ПриборP4-SPM-MDT (16 разрядный ЦАП, сканер 3.5мкм x 3.5мкм)
МодаССМ контактная мода
ЗондКантилевер Si3N4 с радиусом кривизны 50нм

Измерено А.Беляевым, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем & НТ-МДТ, Москва, Россия.
Образец предоставлен А.Бухараевым, Казанский Физико Технический Институт, Россия.

Не опубликовано.


Copyright © 1996, НТ-МДТ
Обратная связь bykovav@ntmdt.zgrad.ru