NT-MDT

ССМ изображение алмазоподобной пленки, нанесеной на поверхность стекла с напыленной пленкой алюминия. Размер скана 248x242 нм.

Условия измерения

Дата 21-Июн-1996

Прибор P4-SPM-MDT (16 разрядный ЦАП, сканер 14мкм x 14мкм)

Мода ССМ резонансная мода

Зонд Кантилевер Si₃N₄ с радиусом кривизны 20нм

Измерено М.Еремтченко, Научно Исследовательский Институт Физических Проблем & НТ-МДТ, Москва, Россия.

Не опубликовано.