NT-MDT

ССМ изображение полярной плоскости скола кристалла триглицин сульфата (TGS). Скан размером 2.3x2.3 мкм.

Условия измерения

Дата 19-Июн-1996

Прибор P4-SPM-MDT (16 разрядный ЦАП, сканер 3.5мкм x 3.5мкм)

Мода ССМ контактная мода

Зонд Кантилевер Si₃N₄ с радиусом кривизны 50нм

Измерено А.Л.Толстихина, Институт кристаллографии РАН, Москва, Россия.

Н.В. Белугина, А.Л.Толстихина. Исследование микрорельефа поверхности кристаллов сегнетоэлектриков ТГС и Rb₂ZnCl₂ методом атомно-силовой микроскопии. Кристаллография, 1996, том 41, N6, с. 1-5.