[НТ-МДТ: Устройства и Материалы для НаноТехнологии]

Характеристикческие кривые

[Image] Из-за высокой чувствительности равновесия возможно исследовать мономолекулярные слои при сверхвысоком давлении от 0.005 до 1 мН/м. На изображении Вы можете видеть зависимость поверхностного давления от поверхностной концентрации для Ленгмюра слоя C60.

[Image] Возможно иметь высокое качество контроль над процессом нанесения ЛБ пленок. Это - диаграмма нанесения октадицилфенола на Si подложку.

[Image] Изучением зависимости поверхностного потенциала от ионный силы возможно исследовать поверхностную нагрузку surfactantes. Это - зависимость поверхностного потенциала от поверхностной концентрации для Ленгмюра слоя C14F29COOH.


Copyright © 1996, НТ-МДТ
Обратная связь bykovav@ntmdt.zgrad.ru