[SOLVER Сканирующий Зондовый Микроскоп]

Глич

[Image]

ССМ
Боковых сил


22-Мар-1996
1.5x1.4 мкм
"Глич" - специфические дефекты, которые могут наблюдаться перпендикулярно направлению сканирования, в виде параллельных линий с затухающей интенсивностью. Глич - результат импульсной помехи во время одновременного переключения старших разрядов ЦАПов, которые обеспечивает сканирование в быстром направлении. Типичная особенность: если направление сканирования изменить на ортогональное, то линии также меняют направление на ортогональное. Этот эффект проявляет себя обычно в режиме боковых сил и может быть замечен на гладких поверхностях.

Copyright © 1996, НТ-МДТ
Обратная связь bykovav@ntmdt.zgrad.ru