![[SOLVER Сканирующий Зондовый Микроскоп]](/label/solverru.gif)
| Общая информация Основные приемущества и возможности програмного обеспечения Результаты полученные на P7-SPMLS-MDT Применение Сканирующего Зондового Микроскопа для контроля качества поверхности |

| Диаметр пластин | До 300 мм | |
| Размер области сканирования | 30х30х1.5 мкм3, 60х60х4 мкм3, 100х100х5 мкм3 | |
| Разрядность разверток по Х, Y, Z | 22 | |
| Линейность | не хуже 1% | |
| Моды работы | АСМ, силы трения, резонансная мода с фазовой регистрацией, магнитносиловая мода, мода измерения электрических сил, адгезионная мода |
|
| Шаг грубого перемещения стола по Х | 1 мкм | |
| Точность возвращения на исходное место по Х | 1 мкм | |
Шаг грубого перемещения на исходное место по ![]() |
0.001° | |
Точность возвращения на исходное место по ![]() |
0.0014° | |
| Разрешение оптического микроскопа | 1.5 мкм | |
| Разрешение на мониторе с видеокамерой | 2-3 мкм |
|