[НТ-МДТ: Устройства и Материалы для НаноТехнологии]

Описание продуктов Сканирующей Зондовой Микроскопии

Тестовые решетки
* 1. Введение
* 2. Техническое описание
* 3. Области применения
* 3.1 Калибровка прибора
* 3.1.1 Калибровка по оси Z
* 3.1.2 Калибровка сканера по осям X и Y при атомарном разрешении
* 3.1.3 Калибровка по осям Х-У
* 3.2 Определение величины нелинейности формирования изображения при сканировании
* 3.3 Определение величины искажения формы объекта из-за creep-эффекта
* 3.4 Конволюция формы иглы и определение радиуса ее кривизны
Copyright © 1996, НТ-МДТ
Обратная связь bykovav@ntmdt.zgrad.ru